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首页-成功案例-安捷伦电感耦合电路等铁离子体质谱仪ICPMS7700X 于-10月10祝日青海省某半导体器件公司企业验货

安捷伦电感耦合等离子体质谱仪ICPMS7700X 于10月10日在甘肃某半导体企业验货

发布时间:2023-10-11

合作伙伴:四川某半导体技术客户

仪器类型:电感耦合等离子体质谱仪

品牌:安捷伦

型号:ICPMS 7700X

202两年多-10月10日  ,青海某半导体器件企业的购入安捷伦电感解耦等阴阳离子体质谱仪ICPMS7700X  ,连接调校立即  ,谢意企业的大力支持与同意!

与传统与现代有机物概述技能相对来说  ,电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS技能展示了最低值的排除限、最宽的动态图线型领域、电磁波辐射很少、研究定量分析高kaiyun全站网页版登录APP下载度较高、研究定量分析极限方便、可做出多维度素同时判断或者可展示精确性的放射性核素数据等研究定量分析性质 。

 

硅片是企业信息技巧第三产业中半导体功率电子原件封装研发业的的基础材料, 硅片在定制运用时中的合金件溶物调整与论文加测是关键在于软件稳定性的非常的为重要策略与指数公式 。在研发加工方式的的生产时中硅片单单从表面能甚为一点合金件废弃物的来源于基本上可以出现功率电子原件封装功能键不可用或可信度性越来越差, 有测算揭示, 在输配电电子元电子原件封装元功率电子原件封装和太阳能光伏软件研发业中50%软件良率的较低基本上在废弃物引起的,为此在研发的的生产时中对硅片单单从表面能溶物废弃物的调整是及其非常的为重要  ,论文加测标准非常的从紧 。
 

跟随着ICP-MS (电感交叉耦合电路等亚铁铁离子体质谱阐述法)枝术的源源不断地勇于创新,以吸其十隹的超痕频度测量性和块化素时候迅速的阐述专业效果, 目前称为硅片面上kaiyun全站网页版登录APP下载破坏自测追踪中必难以少的技术行为 。硅片面上kaiyun全站网页版登录APP下载破坏自测不单单是硅片研发步骤中必难以少的追踪技术行为,也是不断地提升后道器材性的更重要技巧与依照  。电感交叉耦合电路等亚铁铁离子体质谱阐述法按照源源不断地勇于创新,已必备出的超痕频度测量性和块化素时候迅速的阐述专业效果,已被熟适用5年,急需策划涉及到企业产品质量标准 。

国家标准《硅片表面金属元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法GB/T 39145-2020

本标准规定了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定硅片表面金属元素含量的方法 。
本标准适用于硅单晶抛光片和硅外延片表面痕量金属钠、镁、铝、钾、钙、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌元素含量的测定  ,测定范围为108 cm2~1013cm2 。本标准同时也适用于硅退火片、硅扩散片等无图形硅片表面痕量金属元素含量的测定 。

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TEL:400-800-3875